Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie

Michael Reiter; Christoph Heinzl; Dietmar Salaberger; Daniel Weiss; Johann Kastner

Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie

Translated title of the contribution: Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie

Michael Reiter, Christoph Heinzl, Dietmar Salaberger, Daniel Weiss, Johann Kastner

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedings › Conference contribution

Translated title of the contribution	Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie
Original language	German
Title of host publication	Proceedings Industrielle Computertomografie Fachtagung 2010
Publisher	Shaker Verlag
Pages	163-173
ISBN (Print)	978-3-8322-9418-2
Publication status	Published - 2010
Event	Industrielle Computertomografie Tagung 2010 - Wels, Austria Duration: 27 Sept 2010 → 29 Sept 2010 http://www.3dct.at/ct-tagung2010

Conference

Conference	Industrielle Computertomografie Tagung 2010
Country/Territory	Austria
City	Wels
Period	27.09.2010 → 29.09.2010
Internet address	http://www.3dct.at/ct-tagung2010

Cite this

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Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie. / Reiter, Michael; Heinzl, Christoph; Salaberger, Dietmar et al.
Proceedings Industrielle Computertomografie Fachtagung 2010. Shaker Verlag, 2010. p. 163-173.

Research output: Chapter in Book/Report/Conference proceedings › Conference contribution

TY - GEN

T1 - Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie

AU - Reiter, Michael

AU - Heinzl, Christoph

AU - Salaberger, Dietmar

AU - Weiss, Daniel

AU - Kastner, Johann

PY - 2010

Y1 - 2010

M3 - Konferenzbeitrag

SN - 978-3-8322-9418-2

SP - 163

EP - 173

BT - Proceedings Industrielle Computertomografie Fachtagung 2010

PB - Shaker Verlag

T2 - Industrielle Computertomografie Tagung 2010

Y2 - 27 September 2010 through 29 September 2010

ER -