Bildgebende Methode zur Bestimmung der optischen Konstanten von dünnen Schichten bei hohen Temperaturen durch Analyse der thermischen Strahlungsemission

Gerald Zauner; Günther Hendorfer

Bildgebende Methode zur Bestimmung der optischen Konstanten von dünnen Schichten bei hohen Temperaturen durch Analyse der thermischen Strahlungsemission

Translated title of the contribution: Bildgebende Methode zur Bestimmung der optischen Konstanten von dünnen Schichten bei hohen Temperaturen durch Analyse der thermischen Strahlungsemission

Gerald Zauner, Günther Hendorfer

Research Center Wels

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Abstract

Die Beschichtung von metallischen Oberflächen mit dünnen Schichten bei hohen Temperaturen (> 300 °C) findet breite industrielle Anwendung (z.B. für verbesserten Korrosionsschutz, in der Oberflächen-härtung, zur Veränderung der Farbeigenschaften, etc.). Die gezielte Prozesskontrolle dieser z.T. sehr zeit- und kostenintensiven Ober-flächenbehandlungen stellt nach wie vor eine wesentliche Herausforderung an die notwendige Messtechnik dar. Im Rahmen dieser Arbeit wird eine neuartige Methode zur Charakterisierung dieser Oberflächenschichten vorgestellt, die auf der Auswertung der thermischen Abstrahlungseigenschaften bei hohen Temperaturen basiert und mittels herkömmlicher CCD-Kameratechnik in bestehende Fertigungsprozesse integriert werden kann.

Translated title of the contribution	Bildgebende Methode zur Bestimmung der optischen Konstanten von dünnen Schichten bei hohen Temperaturen durch Analyse der thermischen Strahlungsemission
Original language	German
Title of host publication	Proceedings FFH 2010
Publication status	Published - 2010
Event	FFH 2010 - 4. Forschungsforum der österreichischen Fachhochschulen - Pinkafeld, Austria Duration: 7 Apr 2010 → 8 Apr 2010 http://www.fh-burgenland.at/events/ffh2010.asp

Conference

Conference	FFH 2010 - 4. Forschungsforum der österreichischen Fachhochschulen
Country/Territory	Austria
City	Pinkafeld
Period	07.04.2010 → 08.04.2010
Internet address	http://www.fh-burgenland.at/events/ffh2010.asp

Keywords

Optische Messtechnik
Signalanalyse
Thermografie

Cite this

@inproceedings{84a0667d1a7847c0bc8115abaa9e9d81,

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keywords = "Optische Messtechnik, Signalanalyse, Thermografie, Optische Messtechnik, Signalanalyse, Thermografie",

author = "Gerald Zauner and G{\"u}nther Hendorfer",

year = "2010",

language = "Deutsch",

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TY - GEN

T1 - Bildgebende Methode zur Bestimmung der optischen Konstanten von dünnen Schichten bei hohen Temperaturen durch Analyse der thermischen Strahlungsemission

AU - Zauner, Gerald

AU - Hendorfer, Günther

PY - 2010

Y1 - 2010

N2 - Die Beschichtung von metallischen Oberflächen mit dünnen Schichten bei hohen Temperaturen (> 300 °C) findet breite industrielle Anwendung (z.B. für verbesserten Korrosionsschutz, in der Oberflächen-härtung, zur Veränderung der Farbeigenschaften, etc.). Die gezielte Prozesskontrolle dieser z.T. sehr zeit- und kostenintensiven Ober-flächenbehandlungen stellt nach wie vor eine wesentliche Herausforderung an die notwendige Messtechnik dar. Im Rahmen dieser Arbeit wird eine neuartige Methode zur Charakterisierung dieser Oberflächenschichten vorgestellt, die auf der Auswertung der thermischen Abstrahlungseigenschaften bei hohen Temperaturen basiert und mittels herkömmlicher CCD-Kameratechnik in bestehende Fertigungsprozesse integriert werden kann.

AB - Die Beschichtung von metallischen Oberflächen mit dünnen Schichten bei hohen Temperaturen (> 300 °C) findet breite industrielle Anwendung (z.B. für verbesserten Korrosionsschutz, in der Oberflächen-härtung, zur Veränderung der Farbeigenschaften, etc.). Die gezielte Prozesskontrolle dieser z.T. sehr zeit- und kostenintensiven Ober-flächenbehandlungen stellt nach wie vor eine wesentliche Herausforderung an die notwendige Messtechnik dar. Im Rahmen dieser Arbeit wird eine neuartige Methode zur Charakterisierung dieser Oberflächenschichten vorgestellt, die auf der Auswertung der thermischen Abstrahlungseigenschaften bei hohen Temperaturen basiert und mittels herkömmlicher CCD-Kameratechnik in bestehende Fertigungsprozesse integriert werden kann.

KW - Optische Messtechnik

KW - Signalanalyse

KW - Thermografie

KW - Optische Messtechnik

KW - Signalanalyse

KW - Thermografie

M3 - Konferenzbeitrag

BT - Proceedings FFH 2010

T2 - FFH 2010 - 4. Forschungsforum der österreichischen Fachhochschulen

Y2 - 7 April 2010 through 8 April 2010

ER -