TALINT grating kits for X-ray interferometry in the industrial laboratory

Aishwarya Nafre, Jonathan Glinz, Joachim Schulz, Sascha Senck

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Tagungsband › Konferenzbeitrag

1 Ergebnisse

Abgeschlossen
Phad-CT - Quantitative Phasen- und Dunkelfeld-Kontrast - Computertomografie für industrielle Anwendungen an Leichtbauwerkstoffen
Senck, S. (Leitende(r) Forscher/-in) & Glinz, J. (Weitere Forschende)
Dissertationsprogramm der Fachhochschule OÖ
01.12.2019 → 30.11.2022
Projekt: Forschungsprojekt