TALINT grating kits for X-ray interferometry in the industrial laboratory

Aishwarya Nafre, Jonathan Glinz, Joachim Schulz, Sascha Senck

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Tagungsband › Konferenzbeitrag

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Abgeschlossen
Phad-CT - Quantitative Phasen- und Dunkelfeld-Kontrast - Computertomografie für industrielle Anwendungen an Leichtbauwerkstoffen
Senck, S. & Glinz, J.
Dissertationsprogramm der Fachhochschule OÖ
01.12.2019 → 30.11.2022
Projekt: Forschungsprojekt