Strain characterization of Hg1-xFexSe-layers by electron spin resonance

G. Hendorfer, W. Jantsch, W. Helzel, J. H. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftKonferenzartikelBegutachtung

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