Strain characterization of Hg1-xFexSe-layers by electron spin resonance
- G. Hendorfer*
- , W. Jantsch
- , W. Helzel
- , J. H. Li
- , Z. Wilamowski
- , T. Widmer
- , D. Schikora
- , K. Lischka
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › Begutachtung
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Zitate
(Scopus)