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Strain characterization of Hg1-xFexSe-layers by electron spin resonance
G. Hendorfer*, W. Jantsch, W. Helzel, J. H. Li, Z. Wilamowski, T. Widmer, D. Schikora, K. Lischka
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › Begutachtung
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Zitate
(Scopus)