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Sputtering of fullerene by noble gas ions at high fluences

  • D. Fink*
  • , M. Müller
  • , R. Klett
  • , L. T. Chadderton
  • , L. Palmetshofer
  • , J. Kastner
  • , J. Vacik
  • , V. Hnatowicz
  • , P. Popok
  • *Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit

Publikation: Beitrag in FachzeitschriftArtikelBegutachtung

17 Zitate (Scopus)

Abstract

Noble gas ions have been implanted into fullerene in the solid state up to fluences which far exceed the molecular destruction threshold. The corresponding depth profile peaks in Rutherford backscattering experiments move strongly towards the surface signal with increasing fluence. This suggests a high degree of target erosion due to collisional sputtering. One consequence of this process can be an interesting and basic effect on the nature of the fullerene destruction products.

OriginalspracheEnglisch
Seiten (von - bis)415-422
Seitenumfang8
FachzeitschriftNuclear Inst. and Methods in Physics Research, B
Jahrgang103
Ausgabenummer4
DOIs
PublikationsstatusVeröffentlicht - 1 Dez. 1995
Extern publiziertJa

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