Smart machine maintenance enabled by a condition monitoring living lab
T. H. Ooijevaar*, K. Pichler, Y. Di, S. Devos, B. Volckaert, S. Van Hoecke, C. Hesch
*Korrespondierende/r Autor/-in für diese Arbeit
Publikation: Beitrag in Fachzeitschrift › Konferenzartikel › Begutachtung
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(Scopus)
Fingerprint
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