Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie

Michael Reiter, Christoph Heinzl, Dietmar Salaberger, Daniel Weiss, Johann Kastner

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/TagungsbandKonferenzbeitrag

Titel in ÜbersetzungSimulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie
OriginalspracheDeutsch
TitelProceedings Industrielle Computertomografie Fachtagung 2010
Herausgeber (Verlag)Shaker Verlag
Seiten163-173
ISBN (Print)978-3-8322-9418-2
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2010
VeranstaltungIndustrielle Computertomografie Tagung 2010 - Wels, Österreich
Dauer: 27 Sep 201029 Sep 2010
http://www.3dct.at/ct-tagung2010

Konferenz

KonferenzIndustrielle Computertomografie Tagung 2010
LandÖsterreich
OrtWels
Zeitraum27.09.201029.09.2010
Internetadresse

Zitieren