Comparison of defect detectability between Computed Tomography inspection and CT simulation using a calibrated defect phantom

Carlos Galleguillos, Sascha Senck, Celia Vilches, Sarah Heupl, Fernando Lasagni

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Tagungsband › Konferenzbeitrag

Fingerprint

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Ingenieurwesen & Materialwissenschaft

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