CCD based emissivity measurements for surface characterization in

Gerald Zauner, Gerald Darilion, Daniel Heim, Günther Hendorfer, Thomas Müller

Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/TagungsbandKonferenzbeitrag

OriginalspracheEnglisch
TitelOptical Measurement Systems for Industrial Inspection
Seitenumfang8
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2005
VeranstaltungSPIE Optical Metrology 2005 - Munich, Deutschland
Dauer: 12 Jun 200516 Jun 2005

Konferenz

KonferenzSPIE Optical Metrology 2005
Land/GebietDeutschland
OrtMunich
Zeitraum12.06.200516.06.2005

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