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Atomic Force microscopy, A New Supporting Tool in Brain Tumor Diagnosis

  • Marlene Huml
  • , Gerald Zauner
  • , Rene Silye
  • , Stephan Hutterer
  • , Kurt Schilcher

Publikation: Konferenzbeitrag › Papier

OriginalspracheEnglisch
Seitenumfang82
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungNanoscale 2011 - Santa Barbara, USA/Vereinigte Staaten
Dauer: 19 Juli 2011 → 22 Juli 2011

Konferenz

KonferenzNanoscale 2011
Land/GebietUSA/Vereinigte Staaten
OrtSanta Barbara
Zeitraum19.07.2011 → 22.07.2011

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