Atomic Force microscopy, A New Supporting Tool in Brain Tumor Diagnosis

Marlene Huml, Gerald Zauner, Rene Silye, Stephan Hutterer, Kurt Schilcher

Publikation: KonferenzbeitragPapier

OriginalspracheEnglisch
Seitenumfang82
PublikationsstatusVeröffentlicht - 2011
VeranstaltungNanoscale 2011 - Santa Barbara, USA/Vereinigte Staaten
Dauer: 19 Jul 201122 Jul 2011

Konferenz

KonferenzNanoscale 2011
Land/GebietUSA/Vereinigte Staaten
OrtSanta Barbara
Zeitraum19.07.201122.07.2011

Zitieren