Phad-CT - Quantitative Phasen- und Dunkelfeld-Kontrast - Computertomografie für industrielle Anwendungen an Leichtbauwerkstoffen

Senck, Sascha (Leitende(r) Forscher/-in)
Glinz, Jonathan (Weitere Forschende)

1 Konferenzbeitrag

1 Ergebnisse

2022

TALINT grating kits for X-ray interferometry in the industrial laboratory
Nafre, A., Glinz, J., Schulz, J. & Senck, S., 8 Feb. 2022, 11th Conference on Industrial Computed Tomography. S. 1-9 9 S.
Publikation: Beitrag in Buch/Bericht/Tagungsband › Konferenzbeitrag