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Simulative Parameteroptimierung für Metrologie an Multi-Materialbauteilen mit industrieller Röntgen Computertomografie

  • Michael Reiter (Redner*in)

Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Vortrag

Zeitraum29 Sep. 2010
EreignistitelIndustrielle Computertomografie Tagung 2010
VeranstaltungstypKonferenz
OrtWels, ÖsterreichAuf Karte anzeigen