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120 nm resolution and 55 nm line width achieved in visible light STED-lithography

Aktivität: Gespräch oder Vortrag › Vortrag

Zeitraum15 Mai 2013
EreignistitelCLEO / Europe-IQEC 2013
VeranstaltungstypKonferenz
OrtMünchen, DeutschlandAuf Karte anzeigen